| 品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 進口 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 熱場發(fā)射 | 應用領域 | 環(huán)保,化工,能源,電子/電池 |
日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡特性
日常使用的SEM，好用！ 該設備最高分辨率1nm、最大探針電流300nA（之前的15倍），可提供豐富的觀測和分析信息，用戶界面操作簡單、設計緊湊、配備大樣品室。
Zeromag日本JEOL 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡具有將樣品臺圖像、光學像和SEM像聯動的功能，樣品臺上有多個樣品和觀察特定區(qū)域時，很容易搜尋視野。
※若顯示光學像，需要選件樣品臺導航系統SNS。
■ Integrated EDS & Live Analysis
一體化EDS和實時分析
SEM操作界面上有EDS分析操作，觀察分析無障礙。Live Analysis具有實時顯示特征X線譜圖功能。
■ SMILE VIEW™ Lab
快速生成數據報告。
